(1) 产品简介

探针台测试组件在射频/微波/高速产品生命周期中几乎每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，模型参数提取，设计验证及调试一直到小规模生产测试和最终的生产测试。通过使用探针测试组件，人们便有可能在晶片层次上测量射频/微波组件、高速光传输芯片的真正特性。这可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。

(2) 特性&价值

①　小线径，低回弹力，方便布线，减少对探针的应力以避免影响探针使用寿命和定位精度

②　优异的弯折稳定度，提升测试系统的测量精度和可重复性。独特的弯头设计，避免和显微镜镜头几何结构干涉

③　最高频率到110GHz

(3) 典型应用

①　5G芯片测试

②　PA大功率测试（射频功率放大器）

③　探针台应用

④　Load Pull应用（负载拉移原理）

⑤　晶圆高低温循环测试